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20/30 PV 多用途顯微光譜儀

美國CRAIC公司最新研發(fā)的20/30 PV光譜儀集成系統(tǒng)為紫外-可見-近紅外顯微光譜學(xué)設(shè)定了一個新的標準。使用最前沿技術(shù)的20/30 PV不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、螢光激發(fā)或其他光源類型下的光譜,還同時提供了數(shù)位成像功能。光譜測試的范圍從深紫外到近紅外,同時也提供全波段的成像。具備先進的光譜及圖像分析軟體、自動化的參數(shù)設(shè)置、簡單易用、能長時間穩(wěn)定工作等優(yōu)良特性。 20/30 PV是工廠產(chǎn)品檢測以及實驗室樣品分析的完美工具。

目前CRAIC系列分光光度計已用于煤炭,石油,地質(zhì),礦物學(xué),生物學(xué),半導(dǎo)體科學(xué),光電行業(yè)面板量測,材料科學(xué),工業(yè)品質(zhì)控制及刑事鑒定科學(xué)、紡織行業(yè)等。


多用途顯微光譜儀

可量測穿透、反射、螢光、拉曼等光譜

可依需求客制化

20/30 PV 多用途顯微光譜儀


Types of Microspectroscopy UV-vis-NIR absorbance, reflectance, fluorescence, photoluminescence, polarisation
Raman Microspectroscopy Apollo II?
Thin Film Thickness Film thickness ranges from 15 nm and up
Micro-kinetics Available
5D Mapping Available
Micro-colorimetry Available
Microspectometer Spectral Range 200 - 2500 nm
Microscope Imaging Range Deep ultraviolet,  color and near infra-red
Fluorescence Excitation 250 - 546 nm
Fluorescence Emission 300 - 1000 nm
Spectrometer Model Lightblades?
Detectors Scientific grade CCD and InGaAs arrays
Detector Cooling Thermoelectric
Spectral Resolution User selectable, 1 - 15 nm
Sampling Area Variable, 1 - 10,000 microns2
Operating System Windows

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